咨詢熱線
13967146609
<strike id="ssimk"></strike>
<fieldset id="ssimk"></fieldset>
<strike id="ssimk"></strike>
13967146609
當(dāng)前位置：首頁(yè) >產(chǎn)品中心>掃描電子顯微鏡>柜式掃描電子顯微鏡>JSM-IT200掃描電子顯微鏡
簡(jiǎn)要描述：JSM-IT200掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電訊號(hào)，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測(cè)定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測(cè)樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，
產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
Related Articles詳細(xì)介紹
JSM-IT200掃描電子顯微鏡
■ 主窗口 ーZ e r o m a g 觀察ー
使用主窗口顯示的樣品架示意圖和光學(xué)C C D 圖像 *1 ，能尋找視野和定位 分析位置。
■ 顯示譜圖和顯示元素 顯示譜圖和顯示元素 ーLive Analysis 分析 *2 ー
通過顯示譜圖和顯示元素，能確認(rèn)正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。
■ 數(shù)據(jù)管理圖標(biāo) 數(shù)據(jù)管理圖標(biāo) ーSMILE VIEW
T M
L a b 數(shù)據(jù)集中管理ー按下數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)并顯示數(shù)據(jù)管理窗口后，從 S E M 圖像到分析，對(duì)全部數(shù)據(jù)能創(chuàng)建批量報(bào)告、
查看數(shù)據(jù)并重新分析數(shù)據(jù)。
J S M - I T 2 0 0 在完成樣品交換的同時(shí)，開始觀察需要的視野。
按照導(dǎo)航流程操作，也可以安全、方便、可靠地交換樣品。
■ 樣品交換導(dǎo)航
樣品交換導(dǎo)航是從打開樣品室到開始觀察過程中進(jìn)行導(dǎo)航的功能。
■ Zeromag
只需擴(kuò)大光學(xué)圖像，就可以過渡到 S E M 圖像
Z e r o m a g 功能將與樣品臺(tái)位置關(guān)聯(lián)的樣品架示意圖、C C D 圖像 * （光學(xué)圖像）和S E M 圖像實(shí)現(xiàn)了聯(lián)動(dòng)。可以直觀地尋找分析區(qū)域，只需放大光學(xué)圖像就可以過渡到S E M 圖像，因而能防止弄錯(cuò)觀察目標(biāo)和樣品。
Zeromag 的特長(zhǎng)
?能象用光鏡一樣直觀地移動(dòng)視野
?可以預(yù)約多個(gè)分析區(qū)域的測(cè)試
?可以輕松回溯到已測(cè)試完的區(qū)域
Live Analysis
S E M 觀察過程中始終顯示元素分析結(jié)果
利用Live A n a ly s i s 功能，可以不必再分別考慮S E M 觀察和E D S 分析。在觀察窗口上可以隨時(shí)顯示分析區(qū)域內(nèi)的特征X射線譜圖和自動(dòng)定性的主要構(gòu)成元素名稱，還可以發(fā)現(xiàn)感興趣的元素和一些意想不到的元素。
Live Analysis 的特長(zhǎng)
?始終顯示特征X射線譜圖
?通過顯示樣品的主要構(gòu)成元素幫助發(fā)現(xiàn)意想不到的元素。
?對(duì)感興趣元素的標(biāo)注“Alert"
利用SEM觀察窗口上配置的全域/區(qū)域面分布圖圖標(biāo)能獲取整個(gè)觀察區(qū)域或需要區(qū)域的元素面分布圖。
可利用數(shù)據(jù)管理軟件 SMILE VIEWTM Lab 對(duì)采集的數(shù)據(jù)（如用譜圖、元素面分布圖、線分析對(duì)元素的再定位等）進(jìn)行各種分析。
● 實(shí)時(shí) 凈計(jì)數(shù)面分布圖／定量面分布圖
對(duì)每個(gè)像素點(diǎn)的譜峰進(jìn)行分離，顯示消除了臨近峰影響的元素面分布圖。對(duì)凈計(jì)數(shù)面分布圖進(jìn)一步校正計(jì)算，還有用定量值顯示的定量面分布圖。
● 強(qiáng)度面分布圖和凈計(jì)數(shù)面分布圖
Pb-Mα (2.342 keV)的譜峰 和Bi-Mα (2.419 keV) 的譜峰很接近，在強(qiáng)度面分布圖中很難把Bi和Pb的峰*分開。通過顯示凈計(jì)數(shù)面分布圖，可以確認(rèn)Bi元素原有的分布。
JSM-IT200掃描電子顯微鏡技術(shù)規(guī)格
設(shè)備型號(hào) | IT200 | |
|---|---|---|
基本性能 | 二次電子像分辨率 | 3 nm (30 kV, 高真空) 8 nm (3 kV, 高真空) 15 nm (1 kV, 高真空) |
背散射電子像分辨率 | 4.0 nm (30 kV, 高真空) | |
加速電壓 | 0.5 to 30kV | |
放大倍數(shù) | 5x to 300,000x | |
EDS 分析 | 電制冷方式Dry SDD extra detector (不用液氮) | |
EDS 分析位置: WD 10 mm, 取出角 35 度 | ||
電子光學(xué)系統(tǒng) | 電子槍 | 工廠預(yù)對(duì)中燈絲 |
電子槍偏壓 | 無縫式自偏壓 | |
聚光鏡 | 可變焦聚光鏡 | |
物鏡 | 超級(jí)圓錐形物鏡 | |
物鏡光闌 | 3段式可動(dòng)(帶XY軸微調(diào)) | |
像散存儲(chǔ)器 | 內(nèi)置 | |
圖像移動(dòng) | ±50μm（WD 10 mm） | |
探測(cè)器 | 二次電子探測(cè)器 | |
高靈敏度半導(dǎo)體型背散射電子探測(cè)器 | ||
自動(dòng)化功能 | 自動(dòng)燈絲加熱 | 內(nèi)置 |
自動(dòng)槍對(duì)中 | 內(nèi)置 | |
自動(dòng)聚焦 | 內(nèi)置 | |
自動(dòng)消像散 | 內(nèi)置 | |
自動(dòng)亮度和對(duì)比度調(diào)整 | 內(nèi)置 | |
樣品室 | 最大樣品尺寸 | 150 mm （直徑） |
可支持的選購(gòu)附件 | EDS, WDS, EBSD, CLD, SHIC, SCU, Raman | |
樣品臺(tái) | X | 0 ~ 80 mm |
Y | 0 ~ 40 mm | |
Z | 5 ~ 48 mm | |
R | 360 度 | |
T | -10 ~ 90 度 | |
最大視野范圍 | 127 mm （直徑） | |
最大樣品高度 | 48 mm | |
馬達(dá)驅(qū)動(dòng) | 2 (X, Y) | |
圖像顯示系統(tǒng) | PC?OS | Windows®10 |
顯示器 | 24" LCD | |
圖像存儲(chǔ)像素 | 320x240, 640x480, 1280x960, 2560x1920, 5120x3840 pixels | |
圖像保存格式 | Format: BMP, TIFF, JPEG | |
操作系統(tǒng) | 操作導(dǎo)航器 | 位于顯示屏下端的操作導(dǎo)航器可控制以下功能:用戶管理, 樣品交換, 菜單, 成像, 打印, 參數(shù)設(shè)定, 維護(hù) |
測(cè)量功能 | 平行線間距測(cè)量 | 垂直, 水平, 對(duì)角 |
2點(diǎn)之間距離測(cè)量 | 任意2點(diǎn)間距離 | |
圓的測(cè)量 | 直徑, 2個(gè)圓中心間距離 | |
角度測(cè)量 | 角度 | |
面積測(cè)量 | 圓和多角形 | |
計(jì)數(shù) | 顆粒統(tǒng)計(jì) | |
真空系統(tǒng) | 類型 | 全自動(dòng)抽真空系統(tǒng) |
油擴(kuò)散泵 | 420 升/秒 | |
機(jī)械泵 | 100 升/秒: 1 (6510/A), 2 (6510LV/LA) | |
外觀 | 基本單元尺寸 | 750 mm (橫) x 1,000 mm (縱) x 1,445 mm (高) |
基本單元重量 | 325 公斤 | |
安裝要求 | 室溫 | 20 ± 5℃ |
濕度: | 低于60% | |
供電 | 單相 AC100 V, 50/60 Hz, 3 kVA | |
E DS 適用于A（Analysis）和LA（Low V a c u u m &Analysis）配置。
主要技術(shù)規(guī)格
Basic（標(biāo)配） | Standard | ||
SEM 集成化 | SEM 控制軟件內(nèi)置 | ● | ● |
觀察/分析數(shù)據(jù)的集中管理 | |||
在SEM 操作窗口上定位分析位置（從SEM的 GUI上直接分析) | |||
分析位置的圖形顯示 | |||
檢測(cè)器 | SDD 類型 | 參照檢測(cè)器列表 | |
譜圖分析 | 定性分析（譜峰鑒別、自動(dòng)定性） | ● | ● |
Visual Peak ID | |||
無標(biāo)樣定量分析（ZAF 法） | |||
標(biāo)樣定量分析（ZAF 法） *4 | ● | ||
PHI-RHO-Z(PRZ) 法定量校正法 | |||
線分析 | 線分析（水平、任意方向 | ● | ● |
元素面分布圖 | 元素面分布圖（多色顯示、單色顯示、多色合成 | ● | ● |
最大分辨率 4 , 0 9 6 × 3 , 0 7 2 | |||
實(shí)時(shí)彈出譜 | |||
譜峰分離圖 （凈計(jì)數(shù)面分布圖、定量面分布圖） | |||
實(shí)時(shí)凈計(jì)數(shù)面分布圖 | |||
實(shí)時(shí)過濾器 | |||
濃度分布曲線 | |||
電子束追蹤 | |||
連續(xù)分析 | 譜圖分析、線分析、元素面分布 | ● | ● |
測(cè)試完的數(shù)據(jù)的統(tǒng)一分析（定性、定量） | |||
蒙太奇功能 | 自動(dòng)制作蒙太奇（SEM 圖像、元素面分布圖） | ● | ● |
多區(qū)域連續(xù)元素面分布圖 | |||
顆粒度分析軟件 | 顆粒度分析 （自動(dòng) / 手動(dòng)）＆EDS 分析 | ○ | ○ |
顆粒度分析數(shù)據(jù)的分類功能 | |||
圖形顯示顆粒度分析數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理 | |||
大區(qū)域的連續(xù)顆粒度分析 ＆ EDS 分析 | |||
樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)上設(shè)定測(cè)試范圍 | |||
數(shù)據(jù)管理功能和生成報(bào)告 | SMILE VIEW TM Lab | ● | ● |
幫助功能 | 幫助導(dǎo)航 | ● | ● |
離線功能 | 與設(shè)備主機(jī)獨(dú)立的PC 上可以解析數(shù)據(jù)的離線軟件 | ○ | ○ |
產(chǎn)品咨詢
郵箱：13967146609@126.com
地址：浙江省杭州市濱江區(qū)江南大道3778號(hào)A座3樓
微信二維碼
移動(dòng)端瀏覽
